 Ильин Николай Петрович |
Род. 03.10.1927 г. Окончил физический факультет МГУ им. М.В.Ломоносова. Кандидат технических наук, доцент. Ведущий научный сотрудник НПО «Квант». Член НСАХ. Награжден медалью им. С.П. Королева.
Область научных интересов: разработка и применение рентгеноспектральных методов микроанализа и электронной микроскопии для исследования техногенных и природных объектов. Разработан метод рентгеноспектрального микроанализа (РСМА), способ градуирования по чистому элементу, микроанализ по спектру отраженных электронов, количественный РСМА в просвечивающих электронных микроскопах. Создана аппаратура и метод для локального рентгенофлуоресцентного микроанализа, для анализа микроколичеств пробы в сочетании с химическим обогащением, с тонкослойной хроматографией. Предложены принципы так называемого альтернативного рентгенофлуоресцентного анализа (АРФА), в котором аналитическим сигналом является отношение интенсивностей линий двух компонентов, анализ проводится в тонких слоях, интенсивность определяется атомным содержанием компонента. Метод снимает ограничения по объектам, исключает матричные эффекты, повышает точность анализа. Разработанные методы микроанализа использованы для изучения состава фаз сплавов и сталей, диаграмм состояния, фазовых превращений, процессов взаимной диффузии, коррозии, пайки, сварки. Проведены исследования составов и микроструктур минералов, метеоритов, частиц лунного реголита. Предложено и осуществлено моделирование процесса дифференциации элементов в метеоритах. Опубликовано более 150 научных работ. |
